根据 2012 年 Nat Rev Genet 的报道[PMID: 22805709]，每代每个基因组中平均观察到的 74 个新发 SNV 和 3 个新发 indel。而在高龄父母中，新发 indel 的数量的增长是否会大于新发 SNV 呢？2 月 3 日发表在Human Genetics and Genomics Advances 给出了初步答案。

题目：全基因组测序鉴定的常染色体显性或 X 连锁新发变异中的父龄效应  作者：Ella Beraldo, 等

摘要

研究发现，年长父亲所生子女中散发性常染色体显性遗传病的发生率更高。这种父龄效应（paternal age effect）被认为与男性生殖细胞随年龄增长持续发生 DNA 复制和细胞分裂，进而累积新发突变相关。

全基因组测序可用于鉴定疑似遗传病患者的致病遗传变异，且通过对患者 - 父母 trio 家系进行测序，能够明确变异的遗传方式或新发突变状态。

本研究分析了 593 个家系的父亲年龄数据，这些家系因子女疑似患有遗传病而接受了 trio 家系（患者 + 父母）或 quad 家系（患者 + 父母 + 兄弟姐妹）外显子组或基因组测序。

结果显示，子女携带新发致病变异的父亲平均年龄（35.09 岁）显著高于子女携带遗传致病变异的父亲平均年龄（33.78 岁，p=0.04）；而子女携带新发致病变异的母亲平均年龄（31.86 岁）与子女携带遗传致病变异的母亲平均年龄（30.80 岁）相比，无统计学显著差异（p=0.09）。

有趣的是，当按变异类型对新发致病变异进行亚组分析时，子女携带新发插入缺失变异（indel）的父母平均年龄（父亲 = 36.33 岁，母亲 = 33.34 岁）均显著高于子女携带新发 SNV 的父母平均年龄（父亲 = 34.35 岁，p=0.03；母亲 = 31.15 岁，p=0.004）。这一发现可能对揭示插入缺失变异的发生机制具有重要意义，仍需进一步研究验证。

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